美国IST公司总代,自84年合作至今25年,德国贝莱克(Belec)直读光谱仪特约代理,公司老总徐国恩,从事电子测量仪器研发,营销,2广应用已三十余载,曾任北无仪销售科科长,设计所副所长,北京科奇半导体测试中心经理。2002年注册成立北京科奇时代信息工程技术开发有限公司,07年通过ISO9001质量体系认证。
主要产品:
德国Belec直读光谱仪,包括固定式,便携式及台式经济型。
美国IST公司半导体器件参数测试仪
自主创新产品:
ICT33C+数字/模拟IC功能测试仪,ICT3100数字品质分选测试仪,ICT3198线性IC参数分选测试仪
ICT4080XP电路板故障检测仪,ICT950多层电路板短路追踪仪